子宮頸抹片檢查(Pap smear)是於1943年由Papnicolaou醫師所提出的。它主要是用來篩檢子宮頸癌或不正常細胞增生之子宮頸癌前病變。通過這項檢查,這些病變,特別是還未引起症狀的早期子宮頸癌,甚至是重度細胞分化不良(癌前期病變)得以被檢驗出來,使得患者能夠更早地接受治療。此外,子宮頸抹片檢查還可以檢驗出包括發炎(Inflammation),修補(Reparative change),放射線治療(therapeuticeffect)或部份特定之病菌,黴菌及病毒感染等良性變化。
NILM (Negative for intraepithelial lesion or malignancy)
表示並無上皮內病灶或惡性腫瘤,包括正常(『Within normal limit』), 反應性變化(『Reactive change』):發炎(Inflammation),修補(repair),接受放射線治療後之變化(radiation)及其他良性變化(others)及伴隨發炎之萎縮(『Atrophy with inflammation』)。
Atypia(異常或不典型變化)
上皮細胞的異常變化已超過良性之反應性變化,但仍未達LSIL或AIS之變化,稱為非典型鱗狀或腺體上皮細胞但意義未明者,可依變化的程度判讀為『ASCUS』、『Atypical squamous cells cannot exclude HSIL』及『AGUS』,『Atypical glandular cells favor neoplasm』等。
LSIL (Low-grade squamous intraepithelial lesion)
為低度鱗狀上皮內病灶,可依是否有人類乳突病毒感染所造成kiolocytosis之鱗狀上皮細胞出現與否,而分成『Mild dysplasia withkoilocytes』及『Mild dysplasia without koilocytes』。
HSIL (High-grade squamous intraepithelial lesion)
為高度鱗狀上皮內病灶,包括『Moderate dysplasia』及『Severe dysplasia』及『Carcinoma insitu』。
癌症(Carcinoma)
包括鱗狀上皮癌(Squamous cell carciioma)及腺癌(Adenocarcioma)。